- PII
- S30344980S0130308225100015-1
- DOI
- 10.7868/S3034498025100015
- Publication type
- Article
- Status
- Published
- Authors
- Volume/ Edition
- Volume / Issue number 10
- Pages
- 3-12
- Abstract
- Measurements using eddy current transducers in a wide frequency range are considered. Resonance properties have been investigated, hodographs of transducer signals have been constructed depending on the signal frequency and the thickness of the electrically conductive coating on an electrically conductive nonmagnetic base, and the phase method of detuning from the gap for different signal frequencies is considered. A comparative analysis of the dependencies of the amplitude of the added voltage and the penetration depth of the electromagnetic field into the coating material at different excitation frequencies of the transducer is performed.
- Keywords
- вихретоковый преобразователь диапазон частот годограф толщина покрытия вносимое напряжение глубина проникновения электромагнитного поля
- Date of publication
- 14.08.2025
- Year of publication
- 2025
- Number of purchasers
- 0
- Views
- 18
References
- 1. Неразрушающий контроль / Справочник. Под общей ред. В.В. Клюева. Т. 2. М.: Машиностроение, 2006. 688 с.
- 2. Дорофеев А.Л., Никитин А.И., Рубин А.Л. Индукционная толщинометрия / 2-е изд., перераб. и доп. М.: Энергия, 1978. 184 с.
- 3. Потапов А.И., Сясько В.А. Неразрушающие методы и средства контроля толщины покрытий и изделий: научное, методическое и справочное пособие. СПб.: Гуманистика, 2009. 904 с.
- 4. Бакунов А.С., Калошин В.А. Развитие вихретоковой толщинометрии защитных покрытий // Контроль. Диагностика. 2016. № 1. С. 27—31. DOI: 10.14489/td.2016.01.pp.027-031. EDN: VJXBMX.
- 5. Атавин В.Г., Исхужин Р.Р., Терехов А.И. Измерение толщины токопроводящих покрытий с отстройкой от зазора и электропроводности основания // Дефектоскопия. 2016. № 5. С. 32—35. DOI: 10.1134/S1061830916050028. EDN: WUVZUL.
- 6. Атавин В.Г., Узких А.А., Исхужин Р.Р. Отстройка от электропроводности основания при измерении толщины токопроводящих покрытий методом вихревых токов // Дефектоскопия. 2018. № 1. С. 58—64. DOI: 10.1134/S1061830918010023. EDN: UYKEUQ.
- 7. García-Martín J., Gomez-Gil J., Vázquez-Sánchez E. Non-Destructive Techniques Based on Eddy Current Testing // Sensors. 2011. V. 11. P. 2525—2565. DOI: 10.3390/s110302525
- 8. Abdalla A. N., Faraj M. A., Samsuri F., Rifai D., Ali K., Al-Douri Y. Challenges in Improving the Performance of Eddy Current Testing: Review // Measurement and Control. 2019. V. 52. DOI: 10.1177/0020294018801382
- 9. Егоров А.В., Поляков В.В., Лепендин А.А., Грачева Я.И. Применение сигналов специальной формы в многочастотных вихретоковых измерениях // Автометрия. 2017. Т. 53. № 3. С. 28—35. DOI: 10.15372/AUT20170304. EDN: ZAEJSN.
- 10. Syasko M., Solomenchuk P., Soloviev I., Ampilova N.A. A Technique for Multi-Parameter Signal Processing of an Eddy-Current Probe for Measuring the Thickness of Non-Conductive Coatings on Non-Magnetic Electrically Conductive Base Metals // Applied Sciences. 2023. V. 13. P. 5144. DOI: 10.3390/app13085144
- 11. Bilik Y., Haridim M. Theoretical Analysis and Operation Optimization of Eddy Current Flaw Detector Sensor Interface // Measurement and Control. 2023. V. 56. P. 304—310. DOI: 10.1177/00202940221099068
- 12. Егоров А.В., Поляков В.В. Многочастотный вихретоковый контроль листов конструкционной стали // Дефектоскопия. 2024. № 11. С. 46—55. DOI: 10.31857/S0130308224110048. EDN: FBZROY.
- 13. Вебер В.А. Математическое моделирование многопараметрового контроля с учетом конструктивных особенностей вихретоковых преобразователей // Вестник ЮУрГУ. Серия «Математика. Механика. Физика». 2019. Т. 11. № 4. С. 73—79. DOI: 10.14529/mmph190409. EDN: TXBJYM.
- 14. Реутов Ю.Я. Причины аномалий годографа вихретокового преобразователя // Дефектоскопия. 2015. № 12. С. 57—67. DOI: 10.1134/S1061830915120086. EDN: WRWEDB.
- 15. Атавин В.Г., Терехов А.И., Исхужин Р.Р., Куранов В.В. Построение и анализ годографов при исследовании электрофизических параметров объектов с использованием накладных вихретоковых преобразователей // Дефектоскопия. 2013. № 10. С. 53—60. DOI: 10.1134/S1061830913100045. EDN: UERERR.
- 16. Grochowalski J.M., Chady T. Pulsed Multifrequency Excitation and Spectrogram Eddy Current Testing (PMFES-ECT) for Nondestructive Evaluation of Conducting Materials // Materials. 2021. V. 14. DOI: 10.3390/ma14185311
- 17. Lu M., Meng X., Huang R., Chen L., Peyton A., Yin W. Liftoff Tolerant Pancake Eddy-Current Sensor for the Thickness and Spacing Measurement of Nonmagnetic Plates // IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement. October 2020. DOI: 10.1109/TIM.2020.3033377
- 18. Shokralla S., Morelli J.E., Krause T.W. Principal Components Analysis of Multifrequency Eddy Current Data Used to Measure Pressure Tube to Calandria Tube Gap // IEEE Sensors Journal. 2016. V. 16. No. 9. Р. 3147—3154. DOI: 10.1109/JSEN.2016.2529721
- 19. Сясько В.А., Голубев С.С., Потапов А.И., Смирнова Н.И. Методы и средства электромагнитной толщинометрии покрытий металлических изделий // Контроль. Диагностика. 2017. № 12. С. 10—17. DOI: 10.14489/td.2017.12.pp.010-017. EDN: YNIIKU.
- 20. Сясько В.А. Измерение толщины неферромагнитных металлических покрытий на изделиях из цветных металлов с использованием вихретокового частотного метода // Дефектоскопия. 2010. № 12. С. 39—48. EDN: NQVXWJ.
- 21. Чернышев А.В. Выбор рабочей частоты вихретокового толщиномера с накладным преобразователем // Приборы и методы измерений. 2014. № 1 (8). С. 73—78. EDN: SZJUQV.
- 22. Реутов Ю.Я. Глубина проникновения в изделие поля накладного вихретокового преобразователя // Электричество. 2018. № 4. С. 50—57. DOI: 10.24160/0013-5380-2018-4-50—57. EDN: YUJLKL.
- 23. Шкатов П.Н., Мякушев К.В. Обобщенная оценка глубины проникновения вихревых токов при вихретоковом контроле // Приборостроение и биотехнические системы. 2014. № 3 (305). С. 142—147. EDN: SMJLVN.
- 24. Mook G., Uchanin V. Deep Penetrating Eddy Currents and Probes // Materialpruefung / Materials Testing. 2007. V. 49. Is. 5. DOI: 10.3139/120.100810
- 25. Lakhdari A.E., Cheriet A., El-Ghoul I.N. Skin Effect Based Technique in EC-NDT for Thickness Measurement of Conductive Material // IET Science, Measurement & Technology. 2019. V. 13. DOI: 10.1049/iet-smt.2018.5322
- 26. Sardellitti A., Milano F., Laracca M., Ventre S., Ferrigno L., Tamburrino A. An Eddy-Current Testing Method for Measuring the Thickness of Metallic Plates // IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement. 2023. V. 72. DOI: 10.1109/TIM.2023.3269781
- 27. Rathod V. T., Banerjee P., Deng Y. Low Field Methods (GMR, Hall Priobes, etc.) / In Handbook of Advanced Non-Destructive Evaluation. Springer International Publishing. 2019. P. 1—54. DOI: 10.1007/978-3-319-30050-4_32-1
- 28. Song M., Li M., Xiao S., Ren J. Research on the Influence of Geometric Structure Parameters of Eddy Current Testing Probe on Sensor Resolution // Sensors. 2023. V. 23. P. 6610. DOI: 10.3390/s23146610