ОФНДефектоскопия Russian Journal of Nondestructive Testing

  • ISSN (Print) 0130-3082
  • ISSN (Online) 3034-4980

ВЫПОЛНЕНИЕ ВИХРЕТОКОВЫХ ИЗМЕРЕНИЙ В ШИРОКОМ ДИАПАЗОНЕ ЧАСТОТ

Код статьи
S30344980S0130308225100015-1
DOI
10.7868/S3034498025100015
Тип публикации
Статья
Статус публикации
Опубликовано
Авторы
Том/ Выпуск
Том / Номер выпуска 10
Страницы
3-12
Аннотация
Рассмотрены измерения с использованием вихретоковых преобразователей в широком диапазоне частот. Исследованы резонансные свойства, построены годографы сигналов преобразователей в зависимости от частоты сигнала и толщины электропроводящего покрытия на электропроводящем немагнитном основании, рассмотрен фазовый способ отстройки от зазора для различных частот сигнала. Выполнен сопоставительный анализ зависимостей амплитуды вносимого напряжения и глубины проникновения электромагнитного поля в материал покрытия на различных частотах возбуждения преобразователя.
Ключевые слова
вихретоковый преобразователь диапазон частот годограф толщина покрытия вносимое напряжение глубина проникновения электромагнитного поля
Дата публикации
14.08.2025
Год выхода
2025
Всего подписок
0
Всего просмотров
15

Библиография

  1. 1. Неразрушающий контроль / Справочник. Под общей ред. В.В. Клюева. Т. 2. М.: Машиностроение, 2006. 688 с.
  2. 2. Дорофеев А.Л., Никитин А.И., Рубин А.Л. Индукционная толщинометрия / 2-е изд., перераб. и доп. М.: Энергия, 1978. 184 с.
  3. 3. Потапов А.И., Сясько В.А. Неразрушающие методы и средства контроля толщины покрытий и изделий: научное, методическое и справочное пособие. СПб.: Гуманистика, 2009. 904 с.
  4. 4. Бакунов А.С., Калошин В.А. Развитие вихретоковой толщинометрии защитных покрытий // Контроль. Диагностика. 2016. № 1. С. 27—31. DOI: 10.14489/td.2016.01.pp.027-031. EDN: VJXBMX.
  5. 5. Атавин В.Г., Исхужин Р.Р., Терехов А.И. Измерение толщины токопроводящих покрытий с отстройкой от зазора и электропроводности основания // Дефектоскопия. 2016. № 5. С. 32—35. DOI: 10.1134/S1061830916050028. EDN: WUVZUL.
  6. 6. Атавин В.Г., Узких А.А., Исхужин Р.Р. Отстройка от электропроводности основания при измерении толщины токопроводящих покрытий методом вихревых токов // Дефектоскопия. 2018. № 1. С. 58—64. DOI: 10.1134/S1061830918010023. EDN: UYKEUQ.
  7. 7. García-Martín J., Gomez-Gil J., Vázquez-Sánchez E. Non-Destructive Techniques Based on Eddy Current Testing // Sensors. 2011. V. 11. P. 2525—2565. DOI: 10.3390/s110302525
  8. 8. Abdalla A. N., Faraj M. A., Samsuri F., Rifai D., Ali K., Al-Douri Y. Challenges in Improving the Performance of Eddy Current Testing: Review // Measurement and Control. 2019. V. 52. DOI: 10.1177/0020294018801382
  9. 9. Егоров А.В., Поляков В.В., Лепендин А.А., Грачева Я.И. Применение сигналов специальной формы в многочастотных вихретоковых измерениях // Автометрия. 2017. Т. 53. № 3. С. 28—35. DOI: 10.15372/AUT20170304. EDN: ZAEJSN.
  10. 10. Syasko M., Solomenchuk P., Soloviev I., Ampilova N.A. A Technique for Multi-Parameter Signal Processing of an Eddy-Current Probe for Measuring the Thickness of Non-Conductive Coatings on Non-Magnetic Electrically Conductive Base Metals // Applied Sciences. 2023. V. 13. P. 5144. DOI: 10.3390/app13085144
  11. 11. Bilik Y., Haridim M. Theoretical Analysis and Operation Optimization of Eddy Current Flaw Detector Sensor Interface // Measurement and Control. 2023. V. 56. P. 304—310. DOI: 10.1177/00202940221099068
  12. 12. Егоров А.В., Поляков В.В. Многочастотный вихретоковый контроль листов конструкционной стали // Дефектоскопия. 2024. № 11. С. 46—55. DOI: 10.31857/S0130308224110048. EDN: FBZROY.
  13. 13. Вебер В.А. Математическое моделирование многопараметрового контроля с учетом конструктивных особенностей вихретоковых преобразователей // Вестник ЮУрГУ. Серия «Математика. Механика. Физика». 2019. Т. 11. № 4. С. 73—79. DOI: 10.14529/mmph190409. EDN: TXBJYM.
  14. 14. Реутов Ю.Я. Причины аномалий годографа вихретокового преобразователя // Дефектоскопия. 2015. № 12. С. 57—67. DOI: 10.1134/S1061830915120086. EDN: WRWEDB.
  15. 15. Атавин В.Г., Терехов А.И., Исхужин Р.Р., Куранов В.В. Построение и анализ годографов при исследовании электрофизических параметров объектов с использованием накладных вихретоковых преобразователей // Дефектоскопия. 2013. № 10. С. 53—60. DOI: 10.1134/S1061830913100045. EDN: UERERR.
  16. 16. Grochowalski J.M., Chady T. Pulsed Multifrequency Excitation and Spectrogram Eddy Current Testing (PMFES-ECT) for Nondestructive Evaluation of Conducting Materials // Materials. 2021. V. 14. DOI: 10.3390/ma14185311
  17. 17. Lu M., Meng X., Huang R., Chen L., Peyton A., Yin W. Liftoff Tolerant Pancake Eddy-Current Sensor for the Thickness and Spacing Measurement of Nonmagnetic Plates // IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement. October 2020. DOI: 10.1109/TIM.2020.3033377
  18. 18. Shokralla S., Morelli J.E., Krause T.W. Principal Components Analysis of Multifrequency Eddy Current Data Used to Measure Pressure Tube to Calandria Tube Gap // IEEE Sensors Journal. 2016. V. 16. No. 9. Р. 3147—3154. DOI: 10.1109/JSEN.2016.2529721
  19. 19. Сясько В.А., Голубев С.С., Потапов А.И., Смирнова Н.И. Методы и средства электромагнитной толщинометрии покрытий металлических изделий // Контроль. Диагностика. 2017. № 12. С. 10—17. DOI: 10.14489/td.2017.12.pp.010-017. EDN: YNIIKU.
  20. 20. Сясько В.А. Измерение толщины неферромагнитных металлических покрытий на изделиях из цветных металлов с использованием вихретокового частотного метода // Дефектоскопия. 2010. № 12. С. 39—48. EDN: NQVXWJ.
  21. 21. Чернышев А.В. Выбор рабочей частоты вихретокового толщиномера с накладным преобразователем // Приборы и методы измерений. 2014. № 1 (8). С. 73—78. EDN: SZJUQV.
  22. 22. Реутов Ю.Я. Глубина проникновения в изделие поля накладного вихретокового преобразователя // Электричество. 2018. № 4. С. 50—57. DOI: 10.24160/0013-5380-2018-4-50—57. EDN: YUJLKL.
  23. 23. Шкатов П.Н., Мякушев К.В. Обобщенная оценка глубины проникновения вихревых токов при вихретоковом контроле // Приборостроение и биотехнические системы. 2014. № 3 (305). С. 142—147. EDN: SMJLVN.
  24. 24. Mook G., Uchanin V. Deep Penetrating Eddy Currents and Probes // Materialpruefung / Materials Testing. 2007. V. 49. Is. 5. DOI: 10.3139/120.100810
  25. 25. Lakhdari A.E., Cheriet A., El-Ghoul I.N. Skin Effect Based Technique in EC-NDT for Thickness Measurement of Conductive Material // IET Science, Measurement & Technology. 2019. V. 13. DOI: 10.1049/iet-smt.2018.5322
  26. 26. Sardellitti A., Milano F., Laracca M., Ventre S., Ferrigno L., Tamburrino A. An Eddy-Current Testing Method for Measuring the Thickness of Metallic Plates // IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement. 2023. V. 72. DOI: 10.1109/TIM.2023.3269781
  27. 27. Rathod V. T., Banerjee P., Deng Y. Low Field Methods (GMR, Hall Priobes, etc.) / In Handbook of Advanced Non-Destructive Evaluation. Springer International Publishing. 2019. P. 1—54. DOI: 10.1007/978-3-319-30050-4_32-1
  28. 28. Song M., Li M., Xiao S., Ren J. Research on the Influence of Geometric Structure Parameters of Eddy Current Testing Probe on Sensor Resolution // Sensors. 2023. V. 23. P. 6610. DOI: 10.3390/s23146610
QR
Перевести

Индексирование

Scopus

Scopus

Scopus

Crossref

Scopus

Высшая аттестационная комиссия

При Министерстве образования и науки Российской Федерации

Scopus

Научная электронная библиотека