Повышению эффективности сегментации радиографических изображений сварных соединений посвящена настоящая статья. Представлен алгоритм сегментации изображений дефектов, который выполняется в 2 этапа: определение массива порогов обнаружения пикселей изображений дефектов (различных порогов обнаружения пикселей изображений дефектов, расположенных в областях цифровых изображений радиографических снимков сварных соединений с характерным распределением яркости и погрешностей оценки яркости фона) на образце фона по критерию необнаружения «ложных» изображений дефектов и собственно поиск изображений дефектов. Экспериментально подтверждена возможность применения разработанного алгоритма для эффективного обнаружения ИД на радиографических изображениях сварных соединений без использования эталонов чувствительности контроля.
Indexing
Scopus
Crossref
Higher Attestation Commission
At the Ministry of Education and Science of the Russian Federation