Повышению эффективности сегментации радиографических изображений сварных соединений посвящена настоящая статья. Представлен алгоритм сегментации изображений дефектов, который выполняется в 2 этапа: определение массива порогов обнаружения пикселей изображений дефектов (различных порогов обнаружения пикселей изображений дефектов, расположенных в областях цифровых изображений радиографических снимков сварных соединений с характерным распределением яркости и погрешностей оценки яркости фона) на образце фона по критерию необнаружения «ложных» изображений дефектов и собственно поиск изображений дефектов. Экспериментально подтверждена возможность применения разработанного алгоритма для эффективного обнаружения ИД на радиографических изображениях сварных соединений без использования эталонов чувствительности контроля.
Индексирование
Scopus
Crossref
Высшая аттестационная комиссия
При Министерстве образования и науки Российской Федерации