By this author

TESTING SEMICONDUCTOR PRODUCTS USING LOW-FREQUENCY NOISE PARAMETERS

Issue number 6 from 01.06.2024

Данная статья является продолжением и дополнением статьи с таким же названием, опубликованной в журнале «Дефектоскопия» № 1 за 2022 год, в которой приведены шесть способов оценки качества и надежности полупроводниковых изделий (ППИ) с использованием параметров низкочастотного (НЧ) шума. В настоящей статье представлено обобщение ранее полученных авторами результатов и описывается еще четыре способа диагностики и оценки надежности ППИ по изменению параметров НЧ-шума при дополнительных внешних воздействиях, таких как электростатический разряд и (или) термический отжиг. Показано, что дополнительные воздействия позволяют повысить достоверность оценки надежности ППИ.

21 0